))
Avoiding Sample Collisions in your SEM
Manage episode 339741499 series 2948885
المحتوى المقدم من Bruker Nano Analytics. يتم تحميل جميع محتويات البودكاست بما في ذلك الحلقات والرسومات وأوصاف البودكاست وتقديمها مباشرةً بواسطة Bruker Nano Analytics أو شريك منصة البودكاست الخاص بهم. إذا كنت تعتقد أن شخصًا ما يستخدم عملك المحمي بحقوق الطبع والنشر دون إذنك، فيمكنك اتباع العملية الموضحة هنا https://ar.player.fm/legal.
Join us as we speak to Jack Mershon, Applications Specialist for Tescan USA Inc., about SEM advancements and the TESCAN Essence™ 3D Collision Model.
YouTube:
Bruker Detectors https://youtu.be/4iHCLUG7RGw
Website:
Bruker Detectors https://www.bruker.com/en/products-and-solutions/elemental-analyzers/eds-wds-ebsd-SEM-Micro-XRF.html
Essence™ 3D Collision Model – Tescan https://www.tescan.com/product/sem-for-materials-science-tescan-vega/
App Notes application notes:
Essence™ 3D Collision Model – Tescan flyer https://mbna.bruker.com/acton/attachment/15240/f-151ee2e2-f12c-4aa7-9864-7bb93c3f36b8/1/-/-/-/-/Tescan%20-%20Essence%203D%20collision%20model.pdf
Contact Us:
+1 800-234-XRAY(9729)
18 حلقات
مشاركة
